TSE320-S拼接一鍵閃測量儀 影像儀

產(chǎn)品簡介

TSE-300系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統(tǒng)，結(jié)合高精度圖像拼接測量算法。不僅能快速測量產(chǎn)品的平面尺寸和形位公差，還可搭配鐳射（點激光、線激光）測量段差、深度和平面度等尺寸。儀器量測范圍可達300*200mm，測量效率是傳統(tǒng)影像儀器的10-20倍

產(chǎn)品優(yōu)勢

1）超高的效率，單次可拼接測量300*200mm的范圍，可同時測量上百個產(chǎn)品。30s內(nèi)即可測量上千個尺寸，效率是傳統(tǒng)儀器的10-20倍。

2）優(yōu)秀的模板匹配功能，產(chǎn)品可任意擺放，無需治具。具有多種模板匹配模式，確保復雜工件都能夠精準匹配。

3）強大的拼接測量功能，可支持多圖層、多光源切換拼接，不僅可以測量薄片類產(chǎn)品，還可以測量有一定厚度的產(chǎn)品。

4）完善的測量工具，可直接測量點、線、圓、弧、輪廓；豐富的構(gòu)造工具包含相交、相切、垂直、平行、鏡像、平移、旋轉(zhuǎn)；

5）完善的坐標體系，支持工件多重坐標系，支持坐標平移、旋轉(zhuǎn)、調(diào)用；

6）支持點激光、線激光，可同時測量高度差、深度、平面度。

TSE320-S拼接一鍵閃測量儀 影像儀